高精度稳定可靠外，有双电测功能消除样品和探针间距带来的误差，同时在测电阻的同时可测样品厚度，避免手工输入的错误，同时可确保厚度和电阻在样品同一位置取值，避免样品厚度不均匀带来的测试误差。

选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。