四探针双电测电阻测试仪 FTZ-42S
发表时间：2021-08-11
详情介绍
- 机器参数
| 电阻测量范围 | 0.1µΩ~30MΩ |
| 电阻测试精度 | 0.05%FS |
| 电阻最小分辨率 | 0.01µΩ |
| 探针压力 | 20~300g |
| 温度测量范围 | 0~100℃ |
| 功率 | 20W |
| 测试平台尺寸 | 385mm（长）*249mm（宽）*102mm（高） |
- 特点
除基本特点外，有双电测功能，消除了样品边缘和探针间距不准带来的误差
- 机器适用范围
选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
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