发表时间：2021-08-11
- 四探针电阻测试仪系列功能配置对照表
| 名称 | 常规电阻30MΩ |
高电阻 1200MΩ |
双电测 | 厚度测量 | 计算厚度 | 温度测量 | 压力 | 脚踏开关 |
| 四探针电阻测试仪 | √ | √ | √ | |||||
| 四探针高电阻测试仪 | √ | √ | √ | |||||
| 四探针双电测电阻测试仪 | √ | √ | √ | √ | √ | |||
| 四探针双电测高电阻测试仪 | √ | √ | √ | √ | √ | |||
| 四探针双电测厚度电阻测试仪 | √ | √ | √ | √ | √ | √ | ||
| 四探针双电测厚度高电阻测试仪 | √ | √ | √ | √ | √ | 选配 | √ | |
| 四探针方块电阻测试仪 | √ | √ | √ | 选配 | √ |
- 机器参数
| 电阻测量范围 | 0.1µΩ~1200MΩ |
| 电阻测试精度 | 0.02%FS |
| 电阻最小分辨率 | 0.01µΩ |
| 探针压力 | 20~300g |
| 温度测量范围 | -10~100℃ |
| 功率 | 20W |
| 测试平台尺寸 | 385mm（长）*249mm（宽）*102mm（高） |
- 特点
贴片元件制造，测试平台为高耐磨高绝缘性材料制造，稳定可靠、精度更高，电阻量程大
- 机器适用范围
选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
- 机器参数
| 电阻测量范围 | 0.1µΩ~30MΩ |
| 电阻测试精度 | 0.05%FS |
| 电阻最小分辨率 | 0.01µΩ |
| 探针压力 | 20~300g |
| 温度测量范围 | 0~100℃ |
| 功率 | 20W |
| 测试平台尺寸 | 385mm（长）*249mm（宽）*102mm（高） |
- 特点
除基本特点外，有双电测功能，消除了样品边缘和探针间距不准带来的误差
- 机器适用范围
选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
- 机器参数
| 电阻测量范围 | 0.1µΩ~1200MΩ |
| 电阻测试精度 | 0.02%FS |
| 电阻最小分辨率 | 0.01µΩ |
| 探针压力 | 20~300g |
| 温度测量范围 | -10~100℃ |
| 功率 | 20W |
| 测试平台尺寸 | 385mm（长）*249mm（宽）*102mm（高） |
- 特点
除基本特点外，有双电测功能，消除了样品边缘和探针间距不准带来的误差，量程大，更广的测试范围，特别适合检测机构研究所等电阻范围变化较大的单位使用
- 机器适用范围
选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
- 机器参数
| 电阻测量范围 | 0.1µΩ~30MΩ |
| 电阻测试精度 | 0.05%FS |
| 电阻最小分辨率 | 0.01µΩ |
| 探针压力 | 20~300g |
| 温度测量范围 | 0~100℃ |
| 功率 | 20W |
| 厚度测量范围 | 0~10mm |
| 精度 | 1µm |
| 厚度分辨率 | 0.01µm |
| 尺寸 | 385mm（长）*249mm（宽）*102mm（高） |
- 特点
高精度稳定可靠外，有双电测功能消除样品和探针间距带来的误差，同时在测电阻的同时可测样品厚度，避免手工输入的错误，同时可确保厚度和电阻在样品同一位置取值，避免样品厚度不均匀带来的测试误差。
- 机器适用范围
选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
- 机器参数
| 电阻测量范围 | 0.1µΩ~1200MΩ |
| 电阻测试精度 | 0.02%FS |
| 电阻最小分辨率 | 0.01µΩ |
| 探针压力 | 20~300g |
| 温度测量范围 | -10~100℃ |
| 功率 | 20W |
| 尺寸 | 385mm（长）*249mm（宽）*102mm（高） |
- 特点
高精度稳定可靠外，有双电测功能消除样品和探针间距带来的误差，同时在测电阻的同时可测样品厚度，避免手工输入的错误，同时可确保厚度和电阻在样品同一位置取值，避免样品厚度不均匀带来的测试误差。
- 机器适用范围
选配不同探头，可测试多种材料，高耐磨碳化钨探针探头可测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上不同测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
